Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Cost unic de transport la toate comenzile acestui vanzator
-
Produs:Nou, Ofer garanție, Cu factură
-
Numar articol:187819487
-
Disponibilitate:Indisponibil
-
Preț:663,00 Lei
-
Anuntul a expirat la:22.12.2020, 14:33
-
Ai o nelamurire?
-
Vandut de:
-
Vinde si tu:Pune in vanzare un produs ca acesta
-
Optiuni:
Descriere
Vânzatorul este direct răspunzator pentru produsul afișat în această pagină.
Disponibilitate: Indisponibil - Vezi produse similare
Specificatii
This text provides students as well as practitioners with a
comprehensive introduction to the field of scanning electron
microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the
practical aspects of the techniques described. Topics discussed
include user-controlled functions of scanning electron microscopes
and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and
quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample
preparation methods for hard materials, polymers, and biological
specimens. In addition techniques for the elimination of charging
in non-conducting specimens are detailed.
Modalitati de livrare si plata
LIVRARE
PLATA
- - Ramburs
Politica de retur
- - Produsul nu se poate returna.